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Ecopia HMS-7000光霍爾效應測試儀(yi)
霍爾效應測試儀(yi) 主要用於(yu) 測量半導體(ti) 材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾係數、導電類型等重要參數,而這些參數是了解半導體(ti) 材料電學特性必須預先掌控的,因此霍爾效應測試儀(yi) 是理解和研究半導體(ti) 材料電學特性*的工具。
光學模塊
HMS-7000光霍爾效應測試儀(yi) 軟件界麵
通過HMS-7000主機及霍爾效應測試儀(yi) 軟件控製光源及馬達自動完成測試,並繪製出載流子濃度、遷移率、電阻率及霍爾係數隨光源強度變化的曲線如下:
HMS-5000變溫霍爾效應測量儀(yi) 軟件主界麵
不同溫度I-V/I-R曲線 載流子濃度隨溫度變化曲線
遷移率隨溫度變化曲線 電阻率隨溫度變化曲線
霍爾係數隨溫度變化曲線 電導率隨溫度變化曲線
產(chan) 品規格:
1、 主要實驗參數
輸入電流:1nA ~ 20mA;
電阻率:10exp(-5) ~ 10exp7Ω.cm;
載流子濃度:10exp7 ~ 10exp21 cm-3;
遷移率:1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;
磁場強度:0.51T;
樣品測量板:彈簧樣品板;
樣品尺寸:5mmX5mm ~ 20mmX20mm;
高溫腔溫度:常溫~573K (773K);
低溫腔溫度:80K-350K(選配);
磁體(ti) 包尺寸:700×220×280 mm (W×H×D) / 15.5Kg;
2、 軟件操作環境
XP / VISTA / Win7 / Win8 / Win10環境下
3、 實驗結果
- 體(ti) 載流子濃度、表麵載流子濃度;
- 遷移率;
- 霍爾係數;
- 電阻率、方塊電阻;
- 磁致電阻;
- 電阻的縱橫比率;
4、 儀(yi) 器尺寸和重量
主機尺寸:440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg;
5、 測量材料
Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO等所有半導體(ti) 薄膜(P型和N型);