高溫霍爾效應測試儀主要用於測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾係數、導電類型等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此高溫霍爾效應測試儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性不可少的工具。
霍爾效應測量係統主要由恒電流源、範德堡法則終端轉換器、低溫(77K)測量係統及磁場強度輸入係統組成，擁有研究半導體材料霍爾效應所有的部件和配置，是一套非常成熟的儀器係統。 產品特點：
1、可靠的精度及重現性
恒電流源(1nA~20mA)采用六級電流範圍設置，將可以接收的誤差降到較低；範德堡法則轉換使用非接觸裝置有效降低儀器噪聲；軟硬件有針對性的設計，確保每個實驗數據均為多次測試的平均值，使儀器擁有非常好的數據重現性。
2、高溫霍爾效應測試儀小型化及操作簡單化
小尺寸的磁場強度輸入係統使用永磁體和液氮低溫測量係統(77K)，確保儀器操作非常簡單；兩種不同尺寸的傳統樣品板(20*20mm、6*6mm)及帶彈簧夾片的樣品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜樣品更容易測量，區別於傳統樣品板的彈簧夾片樣品板使得霍爾電極製作更方便且對樣品損傷更小。
3、I-V曲線及I-R曲線測量
采用圖表的方式，測量探針四點(A、B、C、D)間電流-電壓及電流-電阻關係，並以此評判樣品的歐姆接觸好壞、了解樣品的基本的電學特性。
4、多樣的實驗結果
高溫霍爾效應測試儀實驗結果由軟件自動計算得到，可同時得到體載流子濃度、表麵載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾係數、磁致電阻、電阻的縱橫比率等等。
