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  • 光學薄膜測厚儀

    光學薄膜測厚儀(yi) 薄膜表麵或界麵的反射光會(hui) 與(yu) 從(cong) 基底的反射光相幹涉，幹涉的發生與(yu) 膜厚及折光係數等有關(guan) ，因此可通過計算得到薄膜的厚度。光幹涉法是一種無損、且快速的光學薄膜厚度測量技術，我們(men) 的薄膜測量係統采用光幹涉原

    更新時間：2020-11-01

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