高溫霍爾效應測試儀是利用範德堡測量技術在不同溫度和不同磁場時對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾係數、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物理性質。該高溫霍爾效應測試儀主要可包括霍爾效應測量控製係統、變溫控製器、磁場控製係統三部分。
高溫霍爾效應測試儀是性能穩定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀，在國內高校、研究所及半導體業界擁有廣泛的用戶和度。本儀器輕巧方便，易於攜帶，主要用於量測電子材料之重要特性參數，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾係數等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據範德堡法則。除了用來判斷半導體材料之型態(n或p)以外，它也可應用於LED磊晶層的質量判定，也可以用來判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用於太陽能電池片的製程輔助。
高溫霍爾效應測試儀主要特點
1）寬的工作溫度範圍（70-730K）；
2）高的溫度穩定性和重複性（±0.1K）；
3）可選電磁場（1.4T和5000高斯）和永磁體5000高斯；
4）靈活配置的模塊設計，可以根據經費和實驗需求組建係統；
5）低運行成本；
6）無機械、聲學和電子噪聲；
7）高溫霍爾效應測試儀可與塞貝克效應測試儀（熱電效應測試儀或熱電係數測試儀）公用平台。
