美國APT開爾文探針：適用於(yu) 四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準確性。另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個(ge) 。

美國GGB探針： ST係列硬針可以用於(yu) 與(yu) 刮擦或者刺穿芯片表麵鈍化層。 該探針可以選擇表麵鍍鎳， 如果選擇 鍍鎳則型號後麵增加 “NP”。

QRUI-5係列探針台：研發的一款在特殊環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試 ，光電測試等。通過液氮或者壓縮機製冷 ，可以在防輻射屏內(nei) 營造一個(ge) 穩定的測試環境。

QRUI-1A係列探針台：是一款在非真空條件下實現高低溫環境的測試探針台。該產(chan) 品采用氣冷製冷 ，自動控溫 ，設備配置非常豐(feng) 富。自帶屏蔽暗室 ，一方麵可以屏蔽無線電磁幹擾 ，另外一方麵也可以保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜。該產(chan) 品多數用於(yu) 相關(guan) 單位實驗室。

QRUI-3 係列探針台：一款高配置綜合型手動測試探針台, 該係列探針台設備配置豐(feng) 富 ，基本可以滿足一般實驗室的全部測試要求。