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  • SIPDR電阻率測試夾具

    SIPDR電阻率測試夾具用於(yu) 測量超材料和電阻膜的表麵阻抗，以及用於(yu) 半導體(ti) 晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料範圍包括表麵阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

    更新時間：2024-11-29

    廠商性質：經銷商

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