SIPDR電阻率測試夾具

描述：SIPDR電阻率測試夾具用於(yu) 測量超材料和電阻膜的表麵阻抗，以及用於(yu) 半導體(ti) 晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料範圍包括表麵阻抗Rs <20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

更新時間：2024-11-29

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詳情介紹

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產地類別	國產	應用領域	化工,電子,印刷包裝,航天,電氣

SIPDR電阻率測試夾具SiPDR（單柱介電諧振器）用於(yu) 測量超材料和電阻膜的表麵阻抗，以及用於(yu) 半導體(ti) 晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料範圍包括表麵阻抗Rs<20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

SIPDR電阻率測試夾具對於(yu) 半導體(ti) 晶片，電阻率測量的上限約為(wei) 1000Ωcm。具有較高電阻率值的半導體(ti) 可以使用該諧振器方便地進行測量。所有SiPDR（單柱介電諧振器）都是定製的。

積社科技_QWED_SiPDR單柱介電諧振器原理圖

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