E5071C-010時域分析TDR功能 增強時域分析選件可對高速串行互連進行全麵表征，增強您對設計的信心，所有選件均可升級，保護您的投資

表麵電阻率電導率測試增強時域分析選件可對高速串行互連進行全麵表征，增強您對設計的信心，所有選件均可升級，保護您的投資

PCB電路板介電常數測試提供 130 dB 寬廣的動態範圍、8 ms 快速測量速度和 0.005 dB/℃ 溫度穩定度，可改善測量精度、提高產(chan) 品良率並增加設計裕量

SIPDR電阻率測試夾具用於(yu) 測量超材料和電阻膜的表麵阻抗，以及用於(yu) 半導體(ti) 晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料範圍包括表麵阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

SPDR介電測試夾具用於(yu) 測量層狀介電材料的複介電常數，包括LTCC襯底以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜；